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日本富士fujiwork便攜式薄膜測厚儀HKT-1.0 型號：Handy-1.0-SH 帶有支架的類型，也可以與手動泵一起用作固定型。如果使用手動泵，則可以進(jìn)行更穩(wěn)定的測量。
更新日期：2024-03-17 訪問量：1042
日本富士fujiwork便攜式薄膜測厚儀HKT-0.1 您可以在任何地方輕松測量厚度！成為測量大師！
更新日期：2024-03-17 訪問量：1085
HKT-Lite 1.0日本富士fujiwork固定式薄膜測厚儀
日本富士fujiwork固定式薄膜測厚儀HKT-Lite 1.0 它可用于所有工業(yè)領(lǐng)域的測量，質(zhì)量控制，節(jié)能等。 無繩輕巧！價格低廉的固定式測量儀！
更新日期：2024-03-17 訪問量：1157
HKT-Lite 0.1日本富士fujiwork便攜式超薄薄膜測厚儀
日本富士fujiwork便攜式超薄薄膜測厚儀HKT-Lite 0.1 無繩輕巧！即使在沒有電源的地方也可以輕松進(jìn)行0.1μm的測量！
更新日期：2024-03-17 訪問量：1350
日本富士fujiwork便攜式薄膜測厚儀HKT-1200 也可以使用電池的緊湊型厚度測量儀
更新日期：2024-03-17 訪問量：1506
日本富士fujiwork超薄薄膜測厚儀HKT-1216 消除測量者的偏差舒適，準(zhǔn)確地測量1μm或更小的超薄膜
更新日期：2024-03-17 訪問量：1207
日本富士fujiwork連續(xù)厚度測量儀FT-D100NL
日本富士fujiwork連續(xù)厚度測量儀FT-D100NL 多合一緊湊型機(jī)器的改進(jìn)版！!! 只需設(shè)置薄膜，就可以從無鉛的尖duan測量厚度。
更新日期：2024-03-17 訪問量：1110
日本富士fujiwork連續(xù)厚度測量儀FT-D200
日本富士fujiwork連續(xù)厚度測量儀FT-D200 帶有內(nèi)置顯示屏的緊湊型機(jī)器。運(yùn)輸功能得到進(jìn)一步改善，可以進(jìn)行穩(wěn)定的連續(xù)厚度測量！
更新日期：2024-03-17 訪問量：1297
日本富士fujiwork連續(xù)厚度測量儀FT-A200
日本富士fujiwork連續(xù)厚度測量儀FT-A200 帶有高精度測量頭和放大器單元的機(jī)器
更新日期：2024-03-17 訪問量：1224
TMA系列日本tekhne腐蝕性氣體中的連續(xù)水分分析儀
日本tekhne腐蝕性氣體中的連續(xù)水分分析儀TMA系列 除了3.5位LCD上的ppm顯示外，主體還可以同時顯示露點(diǎn)。另外，所有設(shè)置，例如測量范圍/警報設(shè)置和數(shù)據(jù)記錄設(shè)置（可選），都可以從主機(jī)的正面進(jìn)行。
更新日期：2024-03-17 訪問量：1318
MBW473系列日本tekhne小型便攜式高精度鏡面式露點(diǎn)儀
日本tekhne小型便攜式高精度鏡面式露點(diǎn)儀MBW473系列 由于可以將其直接插入想要測量的水箱中，例如恒溫恒濕槽，因此可以省去安裝麻煩。
更新日期：2024-03-17 訪問量：1136
日本tekhne SF6氣體露點(diǎn)儀MBW973-SF6系列
日本tekhne SF6氣體露點(diǎn)儀MBW973-SF6系列 密封的露點(diǎn)/純度測量裝置，不泄漏SF6
更新日期：2024-03-17 訪問量：1222
日本tekhne低露點(diǎn)區(qū)域高精度露點(diǎn)儀MBW973
日本tekhne低露點(diǎn)區(qū)域高精度露點(diǎn)儀MBW973 測量低露點(diǎn)時，將使用MBW的原始ORIS功能。為了使露點(diǎn)在低露點(diǎn)結(jié)露，必須將鏡面的溫度冷卻到比實(shí)際霜點(diǎn)低得多的溫度。ORIS功能通過向氣體中短暫注入少量水蒸氣來促進(jìn)結(jié)露的形成。
更新日期：2024-03-17 訪問量：1363
日本tekhne高精度反射鏡式露點(diǎn)儀MBW573系列
日本tekhne高精度反射鏡式露點(diǎn)儀MBW573系列 繼承了舊型號DP3的產(chǎn)品的高精度反射鏡式露點(diǎn)儀
更新日期：2024-03-17 訪問量：1252
日本tekhne高精度的鏡面式露點(diǎn)儀MBW373
日本tekhne高精度的鏡面式露點(diǎn)儀MBW373 嚴(yán)格的高精度露點(diǎn)測量需要精確控制溫度，壓力和流量。MBW373內(nèi)置了多個高質(zhì)量，高性能的溫度計(jì)，壓力表和流量計(jì)。使用這些z高質(zhì)量的采樣系統(tǒng)，可以通過*消除設(shè)備高精度露點(diǎn)測量的干擾因素并*消除故障原因來執(zhí)行z高質(zhì)量的露點(diǎn)測量。
更新日期：2024-03-17 訪問量：1418
